| Naslov: | Application of atomic force microscopy in preparing Ni-Al layer using a two-stage process |
|---|
| Avtorji: | ID Li, Ningning (Avtor)
ID Hao, Zhenjie (Avtor)
ID Xu, Lei (Avtor)
ID Chen, Xi (Avtor)
ID Peng, Jin (Avtor)
ID Wei, Leyu (Avtor)
ID Tang, Mingqi (Avtor)
ID Tong, Yuping (Avtor)
ID Ling, Zicheng (Avtor)
ID Li, Yimin (Avtor) |
|---|
| Datoteke: |  PDF - Predstavitvena datoteka, prenos (1,62 MB)
MD5: 0870584CA316085810FBBB4AE6EE9C18
 URL - Izvorni URL, za dostop obiščite https://mater-tehnol.si/index.php/MatTech/article/view/1352
|
|---|
| Jezik: | Angleški jezik |
|---|
| Tipologija: | 1.01 - Izvirni znanstveni članek |
|---|
| Organizacija: |  IMT - Inštitut za kovinske materiale in tehnologije
|
|---|
| Ključne besede: | Ni-Al layer, atomic force microscopy, nickel layer, morphology |
|---|
| Status publikacije: | Objavljeno |
|---|
| Verzija publikacije: | Objavljena publikacija |
|---|
| Datum objave: | 07.04.2025 |
|---|
| Založnik: | Inštitut za kovinske materiale in tehnologije |
|---|
| Leto izida: | 2025 |
|---|
| Št. strani: | str. 261–266 |
|---|
| Številčenje: | Let. 59, št. 2 |
|---|
| Izvor: | Slovenija |
|---|
| PID: | 20.500.12556/DiRROS-22108  |
|---|
| UDK: | 622.031.2:543.456 |
|---|
| ISSN pri članku: | 1580-2949 |
|---|
| DOI: | 10.17222/mit.2024.1352 |
|---|
| COBISS.SI-ID: | 233964291 |
|---|
| Avtorske pravice: | © 2025 The Author(s) |
|---|
| Datum objave v DiRROS: | 24.04.2025 |
|---|
| Število ogledov: | 521 |
|---|
| Število prenosov: | 310 |
|---|
| Metapodatki: |    |
|---|
|
:
|
Kopiraj citat |
|---|
| | | | Objavi na: |  |
|---|
Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše
podrobnosti ali sproži prenos. |
