| Naslov: | Dielectric loss of Si[sub]2N[sub]2O and the influence of Li on its properties |
|---|
| Avtorji: | ID Yang, Yong (Avtor)
ID He, Ming (Avtor)
ID Zhang, Ting (Avtor)
ID Wu, Meng-qiang (Avtor) |
|---|
| Datoteke: |  URL - Izvorni URL, za dostop obiščite https://mater-tehnol.si/index.php/MatTech/article/view/334
URL - Izvorni URL, za dostop obiščite https://mater-tehnol.si/index.php/MatTech/article/view/334/132
|
|---|
| Jezik: | Angleški jezik |
|---|
| Tipologija: | 1.01 - Izvirni znanstveni članek |
|---|
| Organizacija: |  IMT - Inštitut za kovinske materiale in tehnologije
|
|---|
| Ključne besede: | Si2N2O, dielectric loss, high temperature, Li doping |
|---|
| Leto izida: | 2022 |
|---|
| Št. strani: | str. 79-84 |
|---|
| Številčenje: | Letn. 56, št. 1 |
|---|
| PID: | 20.500.12556/DiRROS-15188  |
|---|
| UDK: | 537.226.3:661.687 |
|---|
| ISSN pri članku: | 1580-2949 |
|---|
| DOI: | 10.17222/mit.2021.334 |
|---|
| COBISS.SI-ID: | 109957379 |
|---|
| Datum objave v DiRROS: | 22.06.2022 |
|---|
| Število ogledov: | 462 |
|---|
| Število prenosov: | 211 |
|---|
| Metapodatki: |     |
|---|
|
:
|
Kopiraj citat |
|---|
| | | | Objavi na: |  |
|---|
Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše
podrobnosti ali sproži prenos. |
