Ključne besede: ionisation vacuum gauge, hot cathode, sensitivity, secondary electrons, ion induced secondary electron yieldObjavljeno v DiRROS: 06.05.2022; Ogledov: 455; Prenosov: 165 Povezava na datoteko
Ključne besede: vacuum gauge, hot cathode, charged particle optics, secondary electron emissionObjavljeno v DiRROS: 06.05.2022; Ogledov: 473; Prenosov: 162 Povezava na datoteko