Ključne besede: ionisation vacuum gauge, hot cathode, sensitivity, secondary electrons, ion induced secondary electron yieldObjavljeno v DiRROS: 06.05.2022; Ogledov: 486; Prenosov: 172 Povezava na datoteko
Ključne besede: vacuum gauge, hot cathode, charged particle optics, secondary electron emissionObjavljeno v DiRROS: 06.05.2022; Ogledov: 516; Prenosov: 173 Povezava na datoteko