Ključne besede: Ions, Layers, Mass spectrometry, Metals, Oxides, SIMS depth profiling H2 C2H2 CO and O2 atmosphere gas flooding cluster secondary ions matrix effectObjavljeno v DiRROS: 18.10.2023; Ogledov: 576; Prenosov: 235 Celotno besedilo (8,02 MB)Gradivo ima več datotek! Več...
Objavljeno v DiRROS: 26.11.2020; Ogledov: 2148; Prenosov: 1235 Celotno besedilo (6,25 MB)Gradivo ima več datotek! Več...