Ključne besede: Ions, Layers, Mass spectrometry, Metals, Oxides, SIMS depth profiling H2 C2H2 CO and O2 atmosphere gas flooding cluster secondary ions matrix effectObjavljeno v DiRROS: 18.10.2023; Ogledov: 592; Prenosov: 244 Celotno besedilo (8,02 MB)Gradivo ima več datotek! Več...