Ključne besede: ionisation vacuum gauge, hot cathode, sensitivity, secondary electrons, ion induced secondary electron yieldObjavljeno v DiRROS: 06.05.2022; Ogledov: 457; Prenosov: 167 Povezava na datoteko
Ključne besede: vacuum gauge, hot cathode, charged particle optics, secondary electron emissionObjavljeno v DiRROS: 06.05.2022; Ogledov: 475; Prenosov: 163 Povezava na datoteko