AFM study of roughness development during ToF-SIMS depth profiling of multilayers with a ▫$Cs^+$▫ ion beam in a ▫$H_2$▫ atmosphere

Izpis gradiva
A+ | A- | | SLO | ENG

Naslov:	AFM study of roughness development during ToF-SIMS depth profiling of multilayers with a ▫$Cs^+$▫ ion beam in a ▫$H_2$▫ atmosphere
Avtorji:	ID Ekar, Jernej, Institut Jožef Stefan (Avtor) ID Kovač, Janez, Institut Jožef Stefan (Avtor)
Datoteke:	URL - Izvorni URL, za dostop obiščite https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acs.langmuir.2c01837 PDF - Predstavitvena datoteka, prenos (5,77 MB) MD5: 517BD00514FFA332B779285C11855CD6
Jezik:	Angleški jezik
Tipologija:	1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija:	IJS - Institut Jožef Stefan
Status publikacije:	Objavljeno
Verzija publikacije:	Objavljena publikacija
Poslano v recenzijo:	13.07.2023
Datum objave:	14.10.2022
Založnik:	ACS Publications
Leto izida:	2022
Št. strani:	str. 12871–12880
Številčenje:	Vol. 38, no. 42
Izvor:	ZDA
PID:	20.500.12556/DiRROS-17172
UDK:	53
ISSN pri članku:	0743-7463
DOI:	10.1021/acs.langmuir.2c01837
COBISS.SI-ID:	128549635
Avtorske pravice:	© 2022 The Authors
Datum objave v DiRROS:	18.10.2023
Število ogledov:	902
Število prenosov:	319
Metapodatki:
:	Kopiraj citat

Objavi na:

Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Financer:	ARRS - Agencija za raziskovalno dejavnost Republike Slovenije
Številka projekta:	P2-0082
Naslov:	Tankoplastne strukture in plazemsko inženirstvo površin

Licenca:	CC BY 4.0, Creative Commons Priznanje avtorstva 4.0 Mednarodna

Povezava:	http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/deed.sl
Opis:	To je standardna licenca Creative Commons, ki daje uporabnikom največ možnosti za nadaljnjo uporabo dela, pri čemer morajo navesti avtorja.
Začetek licenciranja:	14.10.2022

Nazaj