| Naslov: | ToF-SIMS depth profiling of metal, metal oxide, and alloy multilayers in atmospheres of ▫$H_2$▫, ▫$C_2H_2$▫, CO, and ▫$O_2$▫ |
|---|
| Avtorji: | ID Ekar, Jernej, Institut Jožef Stefan (Avtor)
ID Panjan, Peter, Institut Jožef Stefan (Avtor)
ID Drev, Sandra, Institut Jožef Stefan (Avtor)
ID Kovač, Janez, Institut Jožef Stefan (Avtor) |
|---|
| Datoteke: |  URL - Izvorni URL, za dostop obiščite https://pubs.acs.org/doi/10.1021/jasms.1c00218
 PDF - Predstavitvena datoteka, prenos (8,02 MB)
MD5: 75B7F70979A15EEBC1F812F59A1C3053
|
|---|
| Jezik: | Angleški jezik |
|---|
| Tipologija: | 1.01 - Izvirni znanstveni članek |
|---|
| Organizacija: |  IJS - Institut Jožef Stefan
|
|---|
| Ključne besede: | Ions, Layers, Mass spectrometry, Metals, Oxides, SIMS depth profiling H2 C2H2 CO and O2 atmosphere gas flooding cluster secondary ions matrix effect |
|---|
| Status publikacije: | Objavljeno |
|---|
| Verzija publikacije: | Objavljena publikacija |
|---|
| Poslano v recenzijo: | 15.07.2021 |
|---|
| Datum sprejetja članka: | 13.12.2021 |
|---|
| Datum objave: | 05.01.2022 |
|---|
| Založnik: | ACS Publications |
|---|
| Leto izida: | 2022 |
|---|
| Št. strani: | str. 31-44 |
|---|
| Številčenje: | Vol. 33, iss. 1 |
|---|
| Izvor: | ZDA |
|---|
| PID: | 20.500.12556/DiRROS-17171  |
|---|
| UDK: | 53 |
|---|
| ISSN pri članku: | 1879-1123 |
|---|
| DOI: | 10.1021/jasms.1c00218 |
|---|
| COBISS.SI-ID: | 90990339 |
|---|
| Avtorske pravice: | ©2021 The Authors |
|---|
| Opomba: | Nasl. z nasl. zaslona;
Opis vira z dne 27. 12. 2021;
|
|---|
| Datum objave v DiRROS: | 18.10.2023 |
|---|
| Število ogledov: | 331 |
|---|
| Število prenosov: | 149 |
|---|
| Metapodatki: |     |
|---|
|
:
|
Kopiraj citat |
|---|
| | | | Objavi na: |  |
|---|
Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše
podrobnosti ali sproži prenos. |
