Ključne besede: Ions, Layers, Mass spectrometry, Metals, Oxides, SIMS depth profiling H2 C2H2 CO and O2 atmosphere gas flooding cluster secondary ions matrix effectObjavljeno v DiRROS: 18.10.2023; Ogledov: 327; Prenosov: 145 Celotno besedilo (8,02 MB)Gradivo ima več datotek! Več...
Ključne besede: laser ablation, microanalysis, depth profiling, bulk composition, internal standardization, glass densityObjavljeno v DiRROS: 15.04.2015; Ogledov: 4596; Prenosov: 444 Povezava na datoteko