20.500.12556/DiRROS-29866 Analysis and mitigation of negative differential resistance effects with hetero-gate dielectric layer in negative-capacitance field-effect transistors Analiza in ublažitev učinkov negativne diferencialne upornosti s hetero-vratno dielektrično plastjo v poljskih tranzistorjih z negativno kapacitivnostjo negativna diferencialna upornost poljski tranzistor z negativno kapacitivnostjo visoka dielektrična konstanta heterovratni dielektrik true false false Angleški jezik Slovenski jezik Neznano 2026-06-09 08:03:11 2026-06-18 06:09:54 2026-06-19 03:51:30 0000-00-00 00:00:00 2024 0 0 Besedilo v angl.; str. 65-73 no. 1 Vol. 54 2024 0000-00-00 NiDoloceno NiDoloceno NiDoloceno 0000-00-00 0000-00-00 2024-01-01 621.382.3 0352-9045 10.33180/InfMIDEM2024.106 245622787 https://www.midem-drustvo.si/journal_papers/MIDEM_54(2024)1p6.pdf 1 58920cc9-63d4-11f1-9215-001a4af901a5 https://dirros.openscience.si/Dokument.php?lang=slv&id=45029 https://plus.cobiss.net/cobiss/si/sl/data/cobib/245622787 1 f7dced13-63c8-11f1-9215-001a4af901a5 https://dirros.openscience.si/Dokument.php?lang=slv&id=44938 https://www.midem-drustvo.si/journal_papers/MIDEM_54(2024)1p6.pdf 1 bc61ec1c-63ca-11f1-9215-001a4af901a5 https://dirros.openscience.si/Dokument.php?lang=slv&id=44963 Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale 0 0 0