20.500.12556/DiRROS-22108 Application of atomic force microscopy in preparing Ni-Al layer using a two-stage process Uporaba mikroskopije na atomsko silo za pripravo Ni-Al tankih plasti z dvostopenjskim postopkom Ni-Al layer atomic force microscopy nickel layer morphology tanke plasti na osnovi Ni-Al mikroskopija na atomsko silo plast niklja morfologija true false true Inštitut za kovinske materiale in tehnologije Slovenija Angleški jezik Slovenski jezik © 2025 The Author(s) Neznano 2025-04-24 09:55:13 2025-04-24 09:55:14 2025-10-24 03:50:33 0000-00-00 00:00:00 2025 0 0 str. 261–266 št. 2 Let. 59 mar.-apr. 2025 0000-00-00 Zaloznikova Objavljeno NiDoloceno 0000-00-00 0000-00-00 2025-04-07 622.031.2:543.456 1580-2949 10.17222/mit.2024.1352 233964291 RAZ_Li_Ningning_2025.pdf RAZ_Li_Ningning_2025.pdf 1 0870584CA316085810FBBB4AE6EE9C18 76533e3dc35a613988a5bb4a82d7c912afdf05d59f19091a2b5647af14ea0fb9 c803dabd-20e1-11f0-963a-001a4af901a5 https://dirros.openscience.si/Dokument.php?lang=slv&id=31963 https://mater-tehnol.si/index.php/MatTech/article/view/1352 1 7b801e06-20e1-11f0-963a-001a4af901a5 https://dirros.openscience.si/Dokument.php?lang=slv&id=31962 Inštitut za kovinske materiale in tehnologije Materiali in tehnologije 0 0 0