Ključne besede: Ions, Layers, Mass spectrometry, Metals, Oxides, SIMS depth profiling H2 C2H2 CO and O2 atmosphere gas flooding cluster secondary ions matrix effectObjavljeno v DiRROS: 18.10.2023; Ogledov: 319; Prenosov: 143 Celotno besedilo (8,02 MB)Gradivo ima več datotek! Več...
Objavljeno v DiRROS: 26.11.2020; Ogledov: 1917; Prenosov: 1124 Celotno besedilo (6,25 MB)Gradivo ima več datotek! Več...